膜厚仪手机软件_nanospec膜厚仪

塑料薄膜厚度如何测量？用什么仪器好？

生活中常见的可用螺旋测微器，也叫千分尺，可以测到0.01毫米，可以满足测塑料薄膜厚度的需要，且价格便宜。可以将十张薄膜叠起来一起测量，测得厚度除以十，结果更。

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根据国标中的要求，对同一张薄膜选取10个测试点。

1、将两个激光传感器分装在薄膜试样的上下方，把传感器固定在支架上。

2、打开仪器，设置参数，放置对比量块，点击“确认”。

3、取走滑块，重新设置与步骤（2）相同的参数，放入薄膜试样。

4、分别取10个不同的点，位置尽量错开，避免因距离太近影响数据。

5、测量值通过串口传输到计算机，再通过在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标的厚度值。

高精度的涂层测厚仪可以测，但是薄膜不能太软，不然压变形。

这款是中科朴道的PD-CT2

薄膜测厚仪的测量原理是什么？精度可以达到多少？

在被测量的薄膜上垂直照射可视光，光的一部分在膜的表面反射，另一部分透进薄膜，然后在膜与底层之间的界面反射，薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光产生干涉现象。利用白光干涉测量法的原理，它用一个宽波段的光源来测得不同波长的反射数据，由于反射率n和k随薄膜的不同而变化，根据这一特性进行曲线拟合从而求得膜厚。不同类型材料的相应参数通过不同的模型来描述，从而保证了不同类型材料膜厚测量的准确性。

大成精密设备薄膜测厚仪采用非放射性先进测量技术，是测量隔膜厚度的理想解决方案。

英福康膜厚仪设置

1、接通英福康膜厚仪电源并打开仪器电源开关。按下菜单键，进入菜单选项。

2、使用箭头键选择需要设置的项，例如测量底数、校准等。并点击“确定”键进入子菜单项。

3、使用箭头键进行参数设置，例如测量类型、度等。点击“确定”键保存设置即可。

薄膜在线测厚仪的有哪些测量原理？

薄膜在线测厚仪的测量原理有4种：射线技术，X射线技术，近技术和光学透过率技术

2.1 射线技术

射线技术是应用于在线测厚技术上的射线技术，在上世纪60年代就已经广泛用于超薄薄膜的在线厚度测量了。它对于测量物没有要求，但传感器对温度和大气压的变化、以及薄膜上下波动敏感，设备对于辐射保护装置要求很高，而且信号源更换费用昂贵，Pm147源可用5-6年，Kr85源可用10年，更换费用均在6000美元左右。

2.2 X射线技术

这种技术极少为塑料薄膜生产线所采用。X光管寿命短，更换费用昂贵，一般可用2-3年，更换费用在5000美元左右，而且不适用于测量由多种元素构成的聚合物，信号源放射性强。X射线技术常用于钢板等单一元素的测量。

2.3 近技术

近技术在在线测厚领域的应用曾受到条纹干涉现象的影响，但现在近技术已经突破了条纹干涉现象对于超薄薄膜厚度测量的限制，完全可以进行多层薄膜总厚度的测量，并且由于技术自身的特点，还可以在测量复合薄膜总厚度的同时给出每一层材料的厚度。近技术可用于双向拉伸薄膜、流延膜和多层共挤薄膜，信 号源无放射性，设备维护难度相对较低。

2.4光学涂层技术

对于透光的材料，材料一定的情况下，透过率和测量的厚度成一一对应关系，所有通过测量材料的光学透过率（光密度）来达到测量材料厚度的目的，在卷绕式镀膜行业，如镀铝膜，各种包装膜，通过在线监测薄膜的透过率来在线监测生产的品质，已经是一种非常成熟的方案。如深圳市林上科技的LS152真空镀膜在线测厚仪就是利用光学透过率的原理来实现非接触式的在线测厚，该仪器支持RS485通讯接口和MODBUS通讯协议，可以与镀膜机上的PLC进行通讯实现闭环控制。

菲希尔膜厚仪光谱异常不能测试膜厚怎么处理

“底材修正”

用途：底材修正用于修正该程式的零点。

注：1. 此底材必须为同一系列合金，例如都是CuSn合金，因为不同厂家，其中的Cu和Sn的含量可能有所不同，所以要做底材修正，否则底材的变化会对镀层厚度产生影响。

2. 如底材为单一元素，如纯铜，则不需要做底材修正。

3.不能用不同类型的的底材做底材修正，否则会造成测量错误。

底材修正步骤：首先点击菜单“调校”---“底材修正”---把没有镀层的素材放在测量台----点击“确定”后开始倒计时测量---倒计时结束后完成底材修正。

注意：底材修正对于正确地测量样品是非常重要的，所以必须引起必要的重视。

“归一化”步骤

用途：归一化用来当前的产品程式进行修正，从而使得测量更加精准。

原因：仪器在外部条件改变（如随着使用时间的增加，更换准直器或改变阳极电流等等）的情况下，软件计算出的光谱与实际测得的光谱会有一定程度的别。这样有时在计算测量结果的时候会产生一定的偏。而通过“归一化”作可以消除这种偏，从而使得测量结果更加精准。

一．首先点击按钮“资料”---“应用程式”---“Def.MA（本程式）”，进入“设定应用程式的测量条件”，检查“测量元素”复选框是否选中，如果没有选中则点击选中后按“确定”退出该窗口，再按“确定”退出“修改产品程式”窗口。

1. 软件左上角菜单依次点击“调校”---归一化，进入“归一化”子程序。

2. 根据屏幕左下角的提示放置相应的纯元素进行测量。

3. 如果没有该纯元素，则点击菜单“测量”---“元素来自光谱库”跳过即可。如果提示测量“标准片的底材物料”，则放置调校时用的标准片的底材测量。如果提示测量“样品的底材物料”，则放入对应的素材进行测量。

4. 当所有的材料测试完成后，出现“归一化完成，接受？”提示时，点击“是(Y)”结束归一化。

什么是膜厚仪

膜厚仪也叫涂层测厚仪，厚度测试仪，涂层测厚仪是一种便携式双基(铁、铝)测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室中的精密测量，也可用于工程现场广泛地应用在金属制造业、化工业等。FRU

膜厚仪采用了磁性测厚法,是一种超小型测量仪,它能快速,无损伤,地进行铁磁性金属基体上的喷涂.电镀层厚度的测量.可广泛用于制造业,金属加工业,化工业,商检等检测领域.特别适用于工程现场测量

光学膜厚仪的使用及原理

光学薄膜测厚仪 (SpectraThick Series) 的核心技术介绍和原理说明

SpectraThick series的特点是非接触, 非破坏方式测量，无需样品的前处理，软件支持Windows作系统等。ST series是使用可视光测量wafer，glass等substrates上形成的氧化膜，氮化膜，Photo-resist等非金属薄膜厚度的仪器。

测量原理如下：在测量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可视光，这时光的一部分在膜的表面反射，另一部分透进薄膜，然后在膜与底层 (wafer或glass)之间的界面反射。这时薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光产生干涉现象。SpectraThick series就是利用这种干涉现象来测量薄膜厚度的仪器。

仪器的光源使用Tungsten Lamp，波长范围是400 nm ~ 800 nm。从ST2000到ST7000使用这种原理，测量面积的直径大小是4μm ~ 40μm (2μm ~ 20μm optional)。ST8000-Map作为K-MAC (株) 主要的产品之一，有image processs功能，是超越一般薄膜厚度测量仪器极限的新概念上的厚度测量仪器。测量面积的小直径为0.2μm，远超过一般厚度测量仪器的测量极限 (4μm)。顺次测量数十个点才能得到的厚度地图 (Thickness Map) 也可一次测量得到，使速度和度都大大提高。这一技术已经申请专利。

K-MAC (株) SpectraThick series的又一优点是一般仪器无法测量的粗糙表面 (例如铁板，铜板) 上形成的薄膜厚度也可以测量。这是称为VisualThick OS的新概念上的测量原理。除测量薄膜厚度外还有测量透射率，玻璃上形成的ITO薄膜的表面电阻，接触角度 (Contact Angle) 等的功能。

产品说明

本仪器是把UV-Vis光照在测量对象上，利用从测量对象中反的光线测量膜的厚度的产品。

这种产品主要用于研究开发或生产导电体薄膜现场，特别在半导体及有关Display工作中作为

In-Line monitoring 仪器使用。

产品特性

1) 因为是利用光的方式，所以是非接触式，非破坏式，不会影响实验样品。

2) 可获得薄膜的厚度和 n,k 数据。

3) 测量迅速正确，且不必为测量而破坏或加工实验样品。

4) 可测量 3层以内的多层膜。

5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。

6) 产品款式多样，而且也可以根据顾客的要求设计产品。

7)可测量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )

8)Table Top型, 适用于大学,研究室等